RTS噪声新理论

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LAAS（Laboratoire d'analysis et d'architecture des systèmes）、ST、ISAE-SUPAERO、CEA 和 CNR-IOM 发表论文“缺陷簇作为成像设备中随机电报信号的可能来源：基于 DFT 的研究”作者：Antoine Jay、Anne Hémeryck、Fuccio Cristiano、Denis Rideau、Pierre-Louis Julliard、Vincent Goiffon、Alexandre Le Roch、Nicolas Richard、Layla Martin-Samos 和 Stefano de Gironcoli，在半导体工艺和器件仿真国际会议上发表 （ SISPAD) 于 2021 年 9 月。

"在基于半导体的电子设备中观察到的随机电报信号 (RTS) 的起源仍然存在争议。在这项工作中，通过原子模拟，可以研究辐射或注入后可以获得的典型缺陷簇作为RTS 的可能原因。结果表明：
(i) 一组缺陷是高度亚稳态的，
(ii) 它在带隙中引入了几种电子态，
(iii) 它的电子截面远高于点缺陷之一。
这三点可以同时解释为什么电子-空穴生成率可以随时间切换，同时尊重实验测量。”

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[size=13.524px]据说新理论能够同时解释以下所有 RTN 观察结果：

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